原位X射線衍射儀檢測
項目 | 細則(ze) | 收費 | 說明 |
2Theta/Omega、 XRR、GID | 薄膜樣品:每樣品測試不(bu)超 過 30 min;掃描時間大于 30min,延長時間按240 元(yuan)/30min收費,不(bu)足(zu)30min 按 30min 計 | / | 1.長(chang)時間數據(ju)手機(大于5h)、復雜樣品(pin)等特(te)殊(shu)測試,價格需面議; 2.原位(wei)測試需提(ti)供測試方法(fa) |
高(gao)溫測試(shi) | 室(shi)溫至 1100℃,包(bao)含 2 個溫 度點,第二點后, 240元/測 試點 (校外 240 元/測試點) | / | |
中低溫測試 | -180 至 450℃,多溫度(du)點測(ce)(ce)試(shi) 時(shi)第三(san)個溫度(du)起,以 240 元/ 測(ce)(ce)試(shi)點計,低溫測(ce)(ce)試(shi)液(ye)氮另加 30 元/時(shi) | / | |
低溫測試 | 溫度起點低于-180℃,低至 12K,多溫度點測試時第三個 溫度起,以 240元/測試點計 | / | |
電池充放電測試 | 變(bian)溫(wen)范(fan)圍:-25℃~+80℃, Peltier 變(bian)溫(wen),包(bao)含(han) 2 個測試 點(dian),第二點(dian)后, 240 元/測試點(dian) | / | |
原(yuan)位電化學測(ce)試 | 包(bao)含 2 個測試點,第二(er)測試點 以后(hou), 240 元(yuan)/測試點 | / |
原位X射線衍射儀檢測.
儀器功能特點:
1- 高效的6KW TXS-HE轉(zhuan)靶(ba)光源,強(qiang)度是封閉(bi)靶(ba)的5倍;
2- 入射(she)光(guang)路(lu)(lu)三光(guang)路(lu)(lu)自動切換系統:粉末衍射(she)聚焦光(guang)路(lu)(lu)、薄膜反(fan)射(she)、掠入射(she)平行(xing)光(guang)路(lu)(lu);高(gao)分辨光(guang)路(lu)(lu):高(gao)分辨毛細管透(tou)射(she)、反(fan)射(she)、外延薄膜高(gao)分辨;
3- 探測(ce)器的開口大,適合測(ce)試速度快原位(wei)(wei);配(pei)置準直器后(hou)開展二維(wei)衍射實(shi)時(shi)分析,還(huan)原原位(wei)(wei)二維(wei)信息;配(pei)備的高低溫系(xi)統可實(shi)時(shi)檢測(ce)反應(ying)中結構的演變過程;
4- 原位(wei)充(chong)放電、原位(wei)電化(hua)學(xue)附(fu)件更是快(kuai)速準確(que)地追(zhui)溯揭示了phase transformation過程。
應用范圍:
原位(wei)高(gao)低溫附件可(ke)以(yi)在材(cai)料合成過程(cheng)中來觀(guan)察材(cai)料結構變(bian)化(hua),探索材(cai)料合成條件;也可(ke)以(yi)用來探測充放(fang)電到某個電位(wei)下材(cai)料隨溫度(du)變(bian)換而產(chan)生的相應的結構變(bian)化(hua),這(zhe)對探討實際電池(chi)安全性(xing)產(chan)生的原因之一,即(ji)材(cai)料結構變(bian)化(hua)引起的安全問題是一種重要的手段;
科研支撐
變溫物相分析
變溫(wen)過(guo)程(cheng)中的晶粒尺(chi)寸、晶型(xing)、晶胞參(can)數(shu)及動力學分(fen)析
分析、電池充放電物(wu)相分析、原位電化學(xue)反應物(wu)相分析。
產業支撐
藥物作用(yong)機理(li)及動(dong)力學分析、藥物理(li)化性質及穩定性分析。
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