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原位X射線衍射儀檢測

  • 更新時間:  2024-03-04
  • 產品型號:  
  • 簡單描述
  • 原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結構變化,探索材料合成條件;也可以用來探測充放電到某個電位下材料隨溫度變換而產生的相應的結構變化,這對探討實際電池安全性產生的原因之一,即材料結構變化引起的安全問題是一種重要的手段;科研支撐、變溫物相分析、變溫過程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數及動力學分析;電池充放電物相分析、原位電化學反應物相分析。原位X射線衍射儀檢測
詳細介紹

原位X射線衍射儀檢測

 

項目

細則(ze)

收費

說明

2Theta/Omega、 XRR、GID

薄膜樣品:每樣品測試不(bu)超 過 30 min;掃描時間大于 30min,延長時間按240 元(yuan)/30min收費,不(bu)足(zu)30min 按 30min 計

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1.長(chang)時間數據(ju)手機(大于5h)、復雜樣品(pin)等特(te)殊(shu)測試,價格需面議;

2.原位(wei)測試需提(ti)供測試方法(fa)

高(gao)溫測試(shi)

室(shi)溫至 1100℃,包(bao)含 2 個溫 度點,第二點后, 240元/測 試點 (校外 240 元/測試點)

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中低溫測試

-180 至 450℃,多溫度(du)點測(ce)(ce)試(shi) 時(shi)第三(san)個溫度(du)起,以 240 元/ 測(ce)(ce)試(shi)點計,低溫測(ce)(ce)試(shi)液(ye)氮另加 30 元/時(shi)

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低溫測試

溫度起點低于-180℃,至 12K,多溫度點測試時第三個 溫度起,以 240元/測試點計

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電池充放電測試

變(bian)溫(wen)范(fan)圍:-25℃~+80℃, Peltier 變(bian)溫(wen),包(bao)含(han) 2 個測試 點(dian),第二點(dian)后, 240 元/測試點(dian)

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原(yuan)位電化學測(ce)試

包(bao)含 2 個測試點,第二(er)測試點 以后(hou), 240 元(yuan)/測試點

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原位X射線衍射儀檢測.

儀器功能特點:

1- 高效的6KW TXS-HE轉(zhuan)靶(ba)光源,強(qiang)度是封閉(bi)靶(ba)的5倍;

2- 入射(she)光(guang)路(lu)(lu)三光(guang)路(lu)(lu)自動切換系統:粉末衍射(she)聚焦光(guang)路(lu)(lu)、薄膜反(fan)射(she)、掠入射(she)平行(xing)光(guang)路(lu)(lu);高(gao)分辨光(guang)路(lu)(lu):高(gao)分辨毛細管透(tou)射(she)、反(fan)射(she)、外延薄膜高(gao)分辨;

3- 探測(ce)器的開口大,適合測(ce)試速度快原位(wei)(wei);配(pei)置準直器后(hou)開展二維(wei)衍射實(shi)時(shi)分析,還(huan)原原位(wei)(wei)二維(wei)信息;配(pei)備的高低溫系(xi)統可實(shi)時(shi)檢測(ce)反應(ying)中結構的演變過程;

4- 原位(wei)充(chong)放電、原位(wei)電化(hua)學(xue)附(fu)件更是快(kuai)速準確(que)地追(zhui)溯揭示了phase transformation過程。

應用范圍:

原位(wei)高(gao)低溫附件可(ke)以(yi)在材(cai)料合成過程(cheng)中來觀(guan)察材(cai)料結構變(bian)化(hua),探索材(cai)料合成條件;也可(ke)以(yi)用來探測充放(fang)電到某個電位(wei)下材(cai)料隨溫度(du)變(bian)換而產(chan)生的相應的結構變(bian)化(hua),這(zhe)對探討實際電池(chi)安全性(xing)產(chan)生的原因之一,即(ji)材(cai)料結構變(bian)化(hua)引起的安全問題是一種重要的手段;

科研支撐

變溫物相分析

變溫(wen)過(guo)程(cheng)中的晶粒尺(chi)寸、晶型(xing)、晶胞參(can)數(shu)及動力學分(fen)析

分析、電池充放電物(wu)相分析、原位電化學(xue)反應物(wu)相分析。

產業支撐

藥物作用(yong)機理(li)及動(dong)力學分析、藥物理(li)化性質及穩定性分析。


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